梅特勒XPE微量分析天平新款上市

    XPE微量分析天平是一款可读性为 1ug的**密电子天平，将*大秤量与*小秤量有机的结合在一起。 可直接在较大的去皮容器中加样，从而有效的节省贵重的原材料并大幅降低实验成本。

    梅特勒XPE微量分析天平新款上市，*大测量量程为52g,仪器内置有三种不同StatusLight 状态指示灯，通过观测不同颜色可方便的帮助您快速确认天平状态：绿色表示准备就绪，黄色表示警告，超出称量范围等错误用红色表示。
   珠海天创仪器梅特勒XPE微量分析天平新款上市，欢迎大家来电咨询。

梅特勒XPE微量分析天平新款上市

梅特勒XPE微量分析天平技术参数

型号	XPE26	XPE26DR	XPE56
*大称量值	22g	5.1g/22g	52g
可读性	0.001mg	0.002mg/0.01mg	0.001mg
重复性(sd)(加载处)	0.0025mg(20g)	0.008mg(20g)	0.005mg(50g)
重复性(sd)(5%加载)	0.0015mg	0.002mg	0.0015mg
线性误差	0.006mg	0.01mg	0.02mg
灵敏度漂移(校验砝码)	0.08mg(20g)	0.1mg(20g)	0.125mg(50g)
灵敏度温度漂移1	0.0001%/℃	0.0001%/℃	0.0001%/℃
灵敏度稳定性2	0.0001%/a	0.0001%/a	0.0001%/a
典型值
重复性(sd)(5%加载)	0.0007mg	0.0012mg	0.0007mg
线性误差	0.002mg	0.005mg	0.006mg
灵敏度漂移(校验砝码)	0.02mg(20g)	0.03mg(20g)	0.03mg(50g)
*小称量值(5%加载，k=2，U=0.10%)	1.4mg	2.4mg	1.4mg
*小称量值(5%加载，k=2，U=1%)	0.14mg	0.24mg	0.14mg
稳定时间	3.5s	3.5s/2.5s	3.5s

梅特勒XPE微量分析天平新款上市