产品详情
简单介绍：
surfix SX-N1.5涂层测厚仪是一款探头与主机分离式设计的涂层测厚仪，用于测量铝基上的膜厚，如铝氧化，铝基喷涂等场合。
详情介绍：
surfix SX-N1.5涂层测厚仪测量原理：
测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性金属基体上的所有非导电层的厚度，如：油漆、粉末、各种防腐涂层、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、氧化层等；
测量范围：0-1500um
精度：+/-(1um+1%)-两点校准
净空高度：85mm
样本直径：6mm
存储：2000个数据，（峰值，*小值，平均值，标准偏差）
电池：AAX2
数据接口：USB2.0
操作温度：0-60°
尺寸：137×66×23mm
重量：223g
包装清单：
主机、探头，橡胶防护套、2 个校准膜、零标准片 (铝)、2 节AA电池、USB数据线、使用手册、制造商证书、包装箱
