产品详情
简单介绍：
CMXDL+超声波测厚仪在CMXDL超声波测厚仪的基础上，增加了A扫描功能，3个独立闸门。CMXDL+超声波测厚仪有多种测量模式，能测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。
详情介绍：
CMXDL+超声波测厚仪特点：
测量方式（*测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、*测量涂层厚度）
显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<*cmx>）
增益可调节：超低、低、中、高、**
增益值*高可到110dB
自动增益控制（AGC）
时间增益校正（TCG）
探头自动识别，自动调零和温度补偿
*大值、*小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查（50次/秒）
高达140HZ的脉冲重复频率
B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值
上/下限声光报警功能
数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
CMXDL+超声波测厚仪技术参数：
键盘
12键按键
测量范围
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多层测量(PECT)方式：0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式：2.54 —102mm（因涂层的不同会有所变化）
*测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
显示精度
0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）
声速范围
1250－13995m/s
工作温度
-10℃—60℃
探头类型
1—10MHZ双晶探头
探头接口
LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口
RS232接口（配备USB转RS232接头）
电池工作时间
150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）
省电功能
5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏
62X45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）
外观尺寸
63.5X165X31.5 mm
重量
382 g
显示精度
合金外壳