日本kett LH-373膜厚计技术参数：

型号	LH-373
测定方法	高频涡流式
测定对象	非磁性金属基体上的绝缘层
测定范围	0-1200μm
测定精度	<50μm±1μm  ，50μm-1000μm±2%  ，1000μm-2000μm±3%
分辨率	<100μm为0.1μm ， >100μm为1μm
记忆数据	大约3000个
附加功能	1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限 6.数据统计（测定次数 *大值 *小值 标准偏差） 7.语言选择（中、英、日、韩） 8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出
测头	点触式（LHP-J）
显示方式	数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）
数据输出	电脑输出（USB或者RS-232C)或者连接打印机
电源	4节1.5V碱性电池
存储通道	有50个通道可供选择
尺寸重量	75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg
标准配置	基体/标准片/4节碱性电池/测头/皮套
可选配置	数据管理软件（LDL-03)，不同厚度的标准片，打印机VZ-330