产品详情
简单介绍：
QNIX4200P涂层测厚仪是一款外接探头的涂层测厚仪，跟老款QNIX4200功能一样，只是探头是分体式设计。
详情介绍：
QNIX4200P涂层测厚仪特点：
只需调零、无需校准
Fe探头
分体化设计
自动开关机
技术参数：
技术参数：
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型 号 |
4200 |
4200P |
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基 体 |
Fe |
Fe |
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探头形式 |
一体 |
分体 |
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显 示 |
LCD数字显示 |
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测量范围 |
Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
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测量精度 |
0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% |
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显示精度 |
0－99μm：0.1μm，1000μm以上， |
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工作温度 |
－10 － ＋ |
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温度补偿 |
0－ |
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*小基体 |
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*小曲率 |
凸、凹半径： |
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*薄基体 |
Fe： |
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电 源 |
5号电池2节 |
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重 量 |
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尺 寸 |
110×60× |
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