产品详情
简单介绍：
45MG测厚仪是一款带有各种标准测量功能和软件选项的*超声测厚仪。这款**特色的仪器与**Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集**解决方案于一机的**型仪器，可用于几乎**测厚应用。
详情介绍：
45MG测厚仪标准功能：
•与**Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
•*小值/*大值模式
•两个报警模式
•差值模式
•时基B扫描
•缩减率
•增益调整（标准、高、低）
•密码式仪器锁定
45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途*广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。
单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常*的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中*大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、*回波空白、范围及延迟参数。
抵御恶劣环境的能力：
•坚固耐用，设计符合IP67标准。
•爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中**操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
•防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
•防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
•宽泛的操作温度范围
•可选的带有支架的橡胶?；ぬ?
45MG测厚仪技术参数：
测量
双晶探头测量模式从激励脉冲后的*延迟到*个回波之间的时间间
隔。
自动回波到回波•
（可?。?br> 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂
层的厚度。
穿透涂层测量•
（可?。?br> 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头）
单晶探头测量模式•
（可?。?br> 模式1： 激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔
模式2： 延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔
（使用延迟块式或水浸式探头）
模式3： 在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相
邻底面回波之间的时间间隔•
（使用延迟块式或水浸式探头）
厚度范围 0.080 mm～635 mm，视材料、探头、表面条件、温
度和所选配置而定（要测量*全的范围需要使用单晶
选项）
材料声速范围0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
分辨率•
（可选择）
低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
单晶选项：0.001毫米
探头频率范围标准：2.25 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）
一般规格
操作温度范围–10 ℃～50 ℃
键盘密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈
机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密
封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚） 总体尺寸：91.1毫米 x 162毫米 x 41.1毫米
重量431克
电源3节AA电池/USB电源供应
电池工作时间３节AA碱性电池：20到21小时
3节AA镍氢电池：22到23小时
3节AA锂离子电池：35到36小时
标准设计符合EN15317标准。
显示
彩色透反QVGA显示液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
检波全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）
输入/输出
USB 2.0从接口
存储卡*大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡
内置数据记录器（可选）
数据记录器45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、**
及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形
文件名称和ID编码32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
文件结构6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
报告 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的*小值/*
大值、*小值回顾、文件比较及报警报告
45MG测厚仪标准配置
•• 45MG数字式超声测厚仪
•• AA碱性电池
•• 2阶试块和耦合剂
•• USB线缆
•• 用户手册，存于CD盘上
•• 测量功能：*小值/*大值模式、两个报警模
式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁
定功能
软件选项
45MG-SE (U8147022)： 单晶选项，使用频率范围为
2.25 MHz～30 MHz的单晶探头。
45MG-HP (U8147023)： 单晶高穿透选项，使用频率
范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头。
45MG-EETC (U8147021)： 回波到回波和穿透涂层
45MG-WF (U8147019)： 波形选项
45MG-DL (U8147020)： 内置数据记录器，包含
GageView接口程序
选购附件
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD
存储卡
45MG/RPC (U8779676)： 带支架的橡胶?；ぬ?
•与**Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量
•*小值/*大值模式
•两个报警模式
•差值模式
•时基B扫描
•缩减率
•增益调整（标准、高、低）
•密码式仪器锁定
45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途*广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。
单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常*的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中*大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、*回波空白、范围及延迟参数。
抵御恶劣环境的能力：
•坚固耐用，设计符合IP67标准。
•爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中**操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
•防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
•防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
•宽泛的操作温度范围
•可选的带有支架的橡胶?；ぬ?
45MG测厚仪技术参数：
测量
双晶探头测量模式从激励脉冲后的*延迟到*个回波之间的时间间
隔。
自动回波到回波•
（可?。?br> 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂
层的厚度。
穿透涂层测量•
（可?。?br> 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头）
单晶探头测量模式•
（可?。?br> 模式1： 激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔
模式2： 延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔
（使用延迟块式或水浸式探头）
模式3： 在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相
邻底面回波之间的时间间隔•
（使用延迟块式或水浸式探头）
厚度范围 0.080 mm～635 mm，视材料、探头、表面条件、温
度和所选配置而定（要测量*全的范围需要使用单晶
选项）
材料声速范围0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
分辨率•
（可选择）
低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
单晶选项：0.001毫米
探头频率范围标准：2.25 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）
一般规格
操作温度范围–10 ℃～50 ℃
键盘密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈
机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密
封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚） 总体尺寸：91.1毫米 x 162毫米 x 41.1毫米
重量431克
电源3节AA电池/USB电源供应
电池工作时间３节AA碱性电池：20到21小时
3节AA镍氢电池：22到23小时
3节AA锂离子电池：35到36小时
标准设计符合EN15317标准。
显示
彩色透反QVGA显示液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
检波全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）
输入/输出
USB 2.0从接口
存储卡*大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡
内置数据记录器（可选）
数据记录器45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、**
及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形
文件名称和ID编码32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
文件结构6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
报告 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的*小值/*
大值、*小值回顾、文件比较及报警报告
45MG测厚仪标准配置
•• 45MG数字式超声测厚仪
•• AA碱性电池
•• 2阶试块和耦合剂
•• USB线缆
•• 用户手册，存于CD盘上
•• 测量功能：*小值/*大值模式、两个报警模
式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁
定功能
软件选项
45MG-SE (U8147022)： 单晶选项，使用频率范围为
2.25 MHz～30 MHz的单晶探头。
45MG-HP (U8147023)： 单晶高穿透选项，使用频率
范围为0.5 MHz～30 MHz的单晶探头。
45MG-EETC (U8147021)： 回波到回波和穿透涂层
45MG-WF (U8147019)： 波形选项
45MG-DL (U8147020)： 内置数据记录器，包含
GageView接口程序
选购附件
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD
存储卡
45MG/RPC (U8779676)： 带支架的橡胶?；ぬ?